Topografie an Werkstoffoberflächen - unterschiedliche mikroskopische Verfahren

Messen, dokumentieren und analysieren. In der industriellen Qualitätssicherung und Materialentwicklung sind dies Alltagsaufgaben. Mikroskope sorgen bei der visuellen Inspektion für die entsprechende Vergrößerung. Digitale Kameras erledigen die Bildaufnahme. Aber nur die Qualität des optischen Systems kann zusammen mit
leistungsfähiger Software die verlässliche und reproduzierbare Durchführung von Routinemessungen sicherstellen.

Topografische Analysen erfahren durch neue Funktionen und Verfahren eine weitere Aufwertung für ihren Einsatz in der optischen Messtechnik und Rauheitsmessung.
Bei der Verwendung von Stereomikroskopen bietet sich die Möglichkeit, ohne Aufnahme eines Z-Stapels topografische Auswertungen durchzuführen.

Erleben Sie die beeindruckende Funktionalität des neuen Laser Scanning Mikroskops LSM 700 von Carl Zeiss, mit dem umfangreiche Anwendungen in der materialwissenschaftlichen Forschung, Qualitätsprüfung und Routineuntersuchung möglich sind.

Programm:

Dienstag, 2. Februar 2010, um 10.00 Uhr  in der  HAWK Fakultät N

10:00  Begrüßung
           (Michael Schwedler, Carl Zeiss)

10:15  Materialmikroskopie von Carl Zeiss
           - Aktuelles und Neues
           (Michael Schwedler, Carl Zeiss)

10:30  3D Techniken - Mikroskopische Methoden der
           Oberflächentopografie
           (Johannes Kaindl, Carl Zeiss)

11:15  Einführung in die Laser Scanning Mikroskopie
           mit dem LSM 700
           (n.N.)

12:00  Snacks

13:00  Praktisches Arbeiten

Kontakt: Jeanette Löser, E-Mail: loeser@zeiss.de

Hier können Sie sich das Programm als PDF-Datei herunterladen:

Anmeldung per Fax: 0551/ 5060 480 oder auch unter www.zeiss.de/mikro-workshops

Weitere Informationen unter http://www.zeiss.de/mikro