Topografie an Werkstoffoberflächen - unterschiedliche mikroskopische Verfahren
Einladung zum Carl Zeiss TQM-Forum - Messen und Quantifizieren mit dem Mikroskop - am 2. Februar 2010 in der HAWK-Fakultät N
Messen, dokumentieren und analysieren. In der industriellen Qualitätssicherung und Materialentwicklung sind dies Alltagsaufgaben. Mikroskope sorgen bei der visuellen Inspektion für die entsprechende Vergrößerung. Digitale Kameras erledigen die Bildaufnahme. Aber nur die Qualität des optischen Systems kann zusammen mit
leistungsfähiger Software die verlässliche und reproduzierbare Durchführung von Routinemessungen sicherstellen.
Topografische Analysen erfahren durch neue Funktionen und Verfahren eine weitere Aufwertung für ihren Einsatz in der optischen Messtechnik und Rauheitsmessung.
Bei der Verwendung von Stereomikroskopen bietet sich die Möglichkeit, ohne Aufnahme eines Z-Stapels topografische Auswertungen durchzuführen.
Erleben Sie die beeindruckende Funktionalität des neuen Laser Scanning Mikroskops LSM 700 von Carl Zeiss, mit dem umfangreiche Anwendungen in der materialwissenschaftlichen Forschung, Qualitätsprüfung und Routineuntersuchung möglich sind.
Programm:
Dienstag, 2. Februar 2010, um 10.00 Uhr in der HAWK Fakultät N
10:00 Begrüßung
(Michael Schwedler, Carl Zeiss)
10:15 Materialmikroskopie von Carl Zeiss
- Aktuelles und Neues
(Michael Schwedler, Carl Zeiss)
10:30 3D Techniken - Mikroskopische Methoden der
Oberflächentopografie
(Johannes Kaindl, Carl Zeiss)
11:15 Einführung in die Laser Scanning Mikroskopie
mit dem LSM 700
(n.N.)
12:00 Snacks
13:00 Praktisches Arbeiten
Kontakt: Jeanette Löser, E-Mail: loeser@zeiss.de
Hier können Sie sich das Programm als PDF-Datei herunterladen:
Anmeldung per Fax: 0551/ 5060 480 oder auch unter www.zeiss.de/mikro-workshops
Weitere Informationen unter http://www.zeiss.de/mikro